Yüksek ve düşük sıcaklık sabit sıcaklık test odasının koşullarına bağlı olarak

Nem kontrolü, yüksek ve düşük sıcaklık, sabit sıcaklık test odası, sıcaklık, ortam nemi ve gerilimi birlikte serbest bırakan bir test odasını ifade eder. Ülkemizde endüstriyel ürün araştırma ve geliştirme talebiyle birlikte, son yıllarda çok sayıda yurtdışı deney sistemi yazılımı ithal edilmiş ve ülkemizdeki endüstriyel ürün araştırma ve geliştirme ve şekillendirme alanındaki kilit rolü tam olarak kullanılmıştır. Ancak, bu çeşitlilik nedeniyle, test odasının işletiminde hemen çözülemeyen birçok sorun ortaya çıkmış, deney döngüsü süresi büyük ölçüde uzamış ve ürün araştırma ve geliştirme çalışmalarını tehlikeye atmıştır. Bu sorunun nedeni, kapsamlı deney prensipleri hakkındaki bilgi eksikliğidir. Test odasının temel prensipleri kısaca ele alınmış ve kapsamlı test odasının deney ekipmanındaki yaygın arızaların nasıl analiz edileceği ve ayırt edileceği konusunda detaylı bir tanıtım yapılmıştır.
 

Sabit nem test odasının hassasiyeti, test sıcaklığı seviyesine ve gecikme süresine bağlıdır. İlgili özelliklerde aşağıdaki değerlere öncelik verilmelidir:

1. Sabit nem test odası sıcaklığı test sıcaklığı.

Öncelik sırasına göre şu değerler dikkate alınmalıdır: -63, -56, -50, -20, -12, -5, +5 ℃. Deneysel sıcaklık için izin verilen hata aralığı ± 3 ℃'dir.

2. Sabit nem test odasının gecikme süresi.

Test sıcaklığı kararlılık sınırını aştıktan sonra, gerekirse belirli bir süre boyunca ultra düşük sıcaklık standart testleri yapılması gerekiyorsa, aşağıdaki standartlara öncelik verilmelidir: 2.18.76, 98 saat. Testin amacı sadece test ürününün ultra düşük sıcaklıklarda normal çalışıp çalışamayacağını kontrol etmek ise, test süresi test ürününün sıcaklığının kararlılık sınırını aşmasıyla sınırlıdır; ancak her durumda, gecikme süresi 40 dakikadan az olmamalıdır. Bu şartname ultra düşük sıcaklık performansı veya güvenilirliği ile ilgili bir deney olarak kullanıldığında, deney için gerekli gecikme süresi ilgili bir standarttır.